doc. Ing. et Ing. Vilém Neděla, Ph.D., DSc.

Je mezinárodně respektovaným odborníkem v oboru elektronová mikroskopie, kterému se již vice než 20 let věnuje na Ústavu přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. (ÚPT AV ČR), kam v roce 2001 nastoupil, a pod vedením prof. Rudolfa Autraty studoval doktorské studium, během kterého realizoval přestavbu rastrovacího na environmentální rastrovací elektronový mikroskop AQUASEM II. V roce 2021 se stal docentem na Fakultě elektrotechniky a komunikačních technologií (FEKT) VUT v Brně, své alma mater, a v roce 2024 mu byl udělen Akademií věd České republiky prestižní vědecký titul DSc.

V roce 2021 představil novou mikroskopickou metodu s názvem Pokročilá environmentální rastrovací elektronová mikroskopie (A-ESEM). Na ÚPT AV ČR založil dvě laboratoře vybavené prototypem mikroskopu AQASEM-II, který přestavěl a modifikovaným vysokorozlišovacím el. mikroskopem QUANTA 650 FEG. Ve svém výzkumu s využitím matematicko-fyzikálními simulací vyvíjí nové metody, postupy a detektory signálních elektronů pro zobrazování elektricky nevodivých, často vysoce citlivých vzorků ve vysokým rozlišení.

Je autorem či spoluautorem 3 patentů, více než 30 prototypů a funkčních vzorků. Byl řešitelem nebo spoluřešitelem více než 20 vědeckých projektů. V rámci aplikovaného a smluvního výzkumu s firmami realizoval obrat v řádu desítek mil. Kč.

Je autorem více než 70 původních vědeckých článků v impaktovaných časopisech, jeho práce jsou dle databáze SCOPUS citovány vice než 1300×. Od roku 2001 působí jako pedagog na dvou katedrách FEKT VUT v Brně. Působil na několika zahraničních pracovištích a firmách, zejména v Japonsku a Rakousku. Od roku 2009 je hlavním organizátorem, přednášejícím a lektorem laboratorních workshopů Podzimní školy elektronové mikroskopie, která je jako jedna z největších škol elektronové mikroskopie na světě ve dvouletých cyklech pořádána ÚPT AV ČR spolu s dalšími ústavy AV ČR a brněnskými výrobci elektronových mikroskopů již více než 20 let. Je držitelem prestižní ceny za nejlepší vědecký článek udělované Japonskou mikroskopickou společností.